
Seokyung AT a annoncé le 4 qu'elle participait à l'exposition « Nanoteck 2025 » qui se tenait à Tokyo, au Japon, avec sa société japonaise locale, SG JAPAN Co., Ltd., et présentait ses principaux produits en nanomatériaux.
Seokyung AT a installé un stand dans le pavillon coréen et a exposé divers produits à base de nanomatériaux, notamment la ▲silice creuse (SiO2 creuse), la ▲silice (SiO2), les ▲matériaux isolants et les ▲matériaux à indice de réfraction élevé (indice de réfraction élevé : ZrO2/TiO2 ). Également présent au Pavillon du Japon, SG Japan a présenté ▲Silice creuse pour ondes millimétriques 5G/6G ▲Matériaux à faible indice de réfraction (faible indice de réfraction, SiO2 creux) ▲Matériaux de communication (matériaux à faible indice de réfraction Série Lotan : Forstérite, Stéatite, Cordiérite) ▲Chaleur des batteries Matériaux de dissipation (Matériaux TIM : Al2O3, MgO, ZnO) ▲Des matériaux de cellules solaires (Pérovskite : SnO2) ont été exposés.
Lors de cette exposition, Seok Kyung AT a tenu des réunions avec des universitaires et diverses entreprises et a notamment décidé de poursuivre les partenariats stratégiques liés à la silice creuse avec de grandes entreprises japonaises. De plus, nous avons reçu des évaluations positives de la part de clients locaux, notamment de sociétés de distribution et de matières premières cosmétiques, pour nos pigments de couleur cosmétiques au concept respectueux de l'environnement. Il a également été mentionné que l'offre de pigments de couleur cosmétiques pourrait augmenter progressivement à l'avenir, à partir d'environ 10 tonnes cette année.
« L’année dernière, l’intérêt était concentré sur les matériaux en silice creuse, mais cette année, nous avons reçu un intérêt diversifié pour tous les groupes de produits », a déclaré un responsable de Seogyeong AT. « Les concurrents ont également exprimé leur admiration pour notre technologie de silice creuse, et nous sommes fiers d’être « Notre équipe de R&D a montré un grand intérêt pour les matériaux à faible et à haut indice de réfraction », a-t-il déclaré.
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