コセン、「M&M 2025」参加

走査電子顕微鏡（SEM）ベースの融合産業装備専門企業(株)コセンは去る7月、米国ユタ州ソルトレイクシティで開かれた顕微鏡分野学術及び産業展示会「M&M 2025(Microscopy & Microanalysis)」に参加して自社新技術を公開したと述べた。

今回の展示会でコセンはSEMイメージの深さ情報を可視化できる3Dイメージソフトウェア「Deep 3D」を初めて披露した。

また、コセムは展示会期間中「Compact EBSD with Tabletop SEM」をテーマに「Lunch & Learn」技術セッションを運営した。

コセンキム・ヨンジュ副社長(CTO兼CMO)は「今回の展示会参加を通じて、コセンの技術競争力を海外市場に直接紹介し、多様な産業分野の専門家との接点を拡大できるきっかけになった」とし「今後も研究・製造現場で実質的な価値を提供できる高度化された装備開発に注力する計画」。

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