GN 注册“运营数据分析技术”美国专利

16日，ZIEN宣布在美国注册了物联网设备运行数据分析技术专利。

此次注册的专利为“IOT DEVICE INSPECTION METHOD, AND DEVICE THEREFOR（物联网设备检查方法及装置）”，该专利也于2022年10月在韩国注册为专利。该技术分析来自物联网设备的操作数据，并实现物联网设备的高效数据收集和检查。该技术轻量化各种物联网运营数据，如▲服务和网络信息、漏洞功能、密码文件、软件版本信息、硬编码模式信息、系统日志、SSH和SSL证书信息、系统访问控制、加密密钥信息等，创建一个小型物联网设备，以便对其进行分析。此外，它还支持各种物联网架构，包括 MIPS 和 ARM。

GN 计划通过将该专利技术集成到其安全解决方案中来增强物联网安全性。通过将该专利技术与该公司的“Z-Sentinel”解决方案相结合，可以检测异常行为，该解决方案提供实时物联网设备识别和安全分析功能，而“Z-IoT”是一种自动XIoT固件安全检查解决方案，可实现加密由于还可以检查定制固件，因此可以扩大解决方案的覆盖范围。

GN 首席执行官 Cho Young-min 表示：“这项专利注册是对我们的创新技术的认可，该技术可以提高物联网设备的安全性和管理效率，”并补充道，“通过将其与我们的解决方案相结合，我们将进一步加强我们的技术物联网市场的竞争力。”

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