Vieworks参加SF·AW 2025展会

“智能工厂与自动化产业展览会(SF AW 2025)”于12日至14日在三成洞COEX举办，医疗和工业成像解决方案专家Vieworks宣布在“AI机器视觉技术研讨会”上发表主题演讲，并推出了其核心的AI图像处理解决方案。

本次研讨会旨在探讨国内机器视觉技术动向及成功的技术运用方式，Vieworks展示了‘用于提高AI图像处理性能的高速多模式成像解决方案’，并阐述了为提高AI图像处理中重要的‘检测辨别力’而需要解决的技术动向及课题。具体来说，Vieworks推出了两种自动光学检测（AOI）解决方案：“TDI双重成像解决方案”和“区域多模式成像解决方案”。

检测辨别力是评价AI准确区分和检测细节缺陷能力的指标，近年来，识别重大缺陷的性能在各种环境中变得越来越重要。为此，对于只需一次扫描即可获得各种图像的自动光学检测系统的需求日益增加。

Vieworks 的“TDI 双成像解决方案”是一款 0.5 微米分辨率成像解决方案，结合了高灵敏度摄像头和超精密镜头。通过使用背照式 (BSI) TDI 线扫描摄像头，其灵敏度比传统解决方案高 1.8 倍。该方案在弱光环境下具有优异的缺陷检测性能，可通过一次扫描获取明场和暗场照明的图像，有利于检测显示面板制造工艺、背板和EVEN工艺中的异物和缺陷。

“区域多模式成像解决方案”是分辨率达到1微米的高分辨率成像解决方案，通过应用下一代机器视觉接口“光纤上的CoaXpress”，支持每秒454帧的超高速拍摄速度。该解决方案可在高速移动的同时获取各种光照条件下的多幅图像，在显示器和半导体封装工艺、PCB原板检测等方面表现出极高的可用性。

Vieworks 光学与成像研究实验室主任 Kwon Hyuk-hoon 表示：“现有的自动光学检测系统需要各种照明和设置来检测缺陷，但 Vieworks 的技术能够同时获取自动对焦和多张图像，提供满足客户需求的一站式机器视觉解决方案。”

• 查看更多相关文章